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對比TI & 英諾賽科:650V GaN器件開關損耗技術特點
作者:admin 發(fā)布時間:2025-03-21 13:21:27 點擊量:
在追求更高效率和更小尺寸的電源解決方案時,德州儀器(TI)和英諾賽科(Innoscience)都提供了超越傳統(tǒng)硅基方案的氮化鎵(GaN)器件。雖然兩者都展現(xiàn)出GaN技術的優(yōu)越性,但在具體性能特點和適用場景上各有千秋,需要根據(jù)實際應用需求進行仔細評估。
德州儀器(TI)的GaN器件著重于硬開關性能的優(yōu)化。這意味著它們在需要頻繁且快速地開啟和關閉開關的電路中表現(xiàn)出色。其優(yōu)勢主要體現(xiàn)在:
在高頻率下依然能夠保持高效運行,降低能量損耗。
顯著降低了在開關切換時產(chǎn)生的能量損失,提高了整體系統(tǒng)效率。
更快的開關速度允許更高的工作頻率,從而能夠設計出更小巧、功率密度更高的電源轉(zhuǎn)換器。
鑒于其優(yōu)異的開關性能和低損耗,TI的GaN器件非常適合應用于需要盡可能減小尺寸和重量,同時保持高功率輸出的應用,例如服務器電源、電動汽車充電樁等。
英諾賽科(Innoscience)的GaN器件則側(cè)重于開關損耗的優(yōu)化和高壓應用性能。其優(yōu)勢在于:
較低的寄生電容可以減少開關過程中的能量損耗,提高效率。
通過優(yōu)化器件結(jié)構(gòu)和工藝,英諾賽科顯著降低了開關過程中的損耗,特別是在高頻率下表現(xiàn)更加明顯。
在高電壓應用場景下,英諾賽科的GaN器件表現(xiàn)出更高的效率和可靠性,例如在新能源汽車的高壓電池系統(tǒng)中。
英諾賽科不斷探索新的器件結(jié)構(gòu)和制造工藝,以進一步提升GaN器件的性能,使其在高壓、高頻等應用場景中更具競爭力。
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